- Keysight vừa công bố MISIC Microelectronics đã lựa chọn giải pháp biến dạng điều chế S930705B Modulation Distortion của Keysight để xác định nhanh và chính xác đặc tính biến dạng điều chế của các linh kiện và thiết bị vi ba của hãng.

Nhu cầu về thông lượng dữ liệu cao và độ trễ thấp đang là nguyên nhân đưa điều chế băng rộng vào thông số kỹ thuật và tiêu chuẩn vận hành của thiết bị. Tuy nhiên, hiệu năng băng rộng cao làm tăng mức độ nhiễu đáng kể, khiến các nhà sản xuất bán dẫn như MISIC gặp phải vấn đề phát sinh về độ phức tạp trong đo kiểm và không chắc chắn trong phép đo.

Nhờ phần mềm biến dạng điều chế S930705B của Keysight, chạy trên thiết bị phân tích mạng vi ba N5245B PNA-X Microwave Network Analyzer, MISIC có thể thực hiện các phép đo thiết bị vi ba với cường độ véc tơ sai số dư (EVM) siêu thấp để có được cái nhìn tổng thể về hiệu năng của thiết bị mà không tạo xuyên nhiễu hệ thống đo kiểm.

Nguyên nhân là S930705B mô phỏng các hành vi phi tuyến của thiết bị được đo kiểm (DUT), chẳng hạn như EVM, tỷ số công suất nhiễu (NPR) và tỷ số công suất kênh liền kề (ACPR) trong các điều kiện kích thích được điều chế. Do đó, MISIC có thể đạt được độ trung thực tín hiệu tuyệt vời và kết quả đo được điều biến chính xác ở tần số 5G, 6G, vi ba và sóng milimet.

Debin Hou, Tổng Giám đốc, MISIC Microelectronics, cho biết: “Keysight mang đến cho chúng tôi giải pháp đo kiểm có hiệu quả về chi phí, cho kết quả đo với độ chính xác cao bằng cách loại bỏ tiếng ồn hệ thống và xuyên nhiễu. Một thiết lập đo kiểm duy nhất cho phép mô tả đầy đủ đặc tính của bộ khuếch đại, thay vì phải sử dụng hai bàn đo riêng hoặc ma trận chuyển mạch phức tạp và đắt tiền."

Peng Cao, Phó chủ tịch kiêm Tổng giám đốc bộ phận Đo kiểm vô tuyến của Keysight, cho biết: "Nhờ giải pháp biến dạng điều chế của Keysight, MISIC có thể kết hợp tối ưu tốc độ và tính toàn vẹn của phép đo để hiểu sâu hơn về các thiết kế, cũng như đẩy nhanh quy trình nghiên cứu và phát triển của hãng. Giải pháp tích hợp này loại bỏ nhu cầu phải có một giá máy với đầy đủ thiết bị đo, và giúp giảm chi phí phát triển và xác nhận thiết bị.”

Phạm Lê